下面哪一种方法可以在不使用物理探针的情况下,通过在芯片内部建立边界扫描通道，捕获其核心逻辑内容,实现芯片功能的测试?

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下面哪一种方法可以在不使用物理探针的情况下,通过在芯片内部建立边界扫描通道，捕获其核心逻辑内容,实现芯片功能的测试?

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