用单探头法探测两个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量

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用单探头法探测两个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量

A.面积大的，当量也一定大
B.面积大的，当量不一定比面积小的大
C.面积大的，当量反而比面积小的小
D.相等
正确答案C
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